接觸角測(cè)量?jī)x到底是什么樣的儀器？這個(gè)問題本來很好回答。但是，特別是近年來，隨著接觸角測(cè)量技術(shù)的發(fā)展，專業(yè)人員越來越多的重視科學(xué)真相的情況下，接觸角測(cè)量?jī)x廠商有時(shí)自己都被搞暈了。

1、該公司能夠提供Young-Laplace方程算法，但這個(gè)算法無(wú)法用于20度以下的角度測(cè)量，無(wú)法用于非軸對(duì)稱條件下的接觸角測(cè)量。

但是，事實(shí)的情況下，98%以上的接觸角液滴形狀為非軸對(duì)稱的。這一方面是由于儀器本身設(shè)計(jì)缺陷造成的，如樣品的上表面不水平會(huì)導(dǎo)致左、右角度不一致等。另一方面是由于材料表面本身存在的化學(xué)多樣性、異構(gòu)性以及表面粗糙度造成的。后者是無(wú)法避免的。
因而，他們這個(gè)寫法的第一點(diǎn)告訴我們，Young-Laplace方程是界面化學(xué)領(lǐng)域用于分析接觸角的最好的算法，但很不幸，這個(gè)算法無(wú)法用于98%條件下的接觸角測(cè)量。

2、橢圓擬合法的接觸角測(cè)量

只能應(yīng)用于120度以下的角度測(cè)量以及左、右角度偏差不是很大的樣品測(cè)量。
3、圓和寬度法用于20度以下的角度測(cè)量。
4、切線法用于10-180度的角度測(cè)量。
顯然，該公司強(qiáng)調(diào)的重點(diǎn)在于切線法，因?yàn)榭蛇m用范圍更大。
但是，切線法僅僅是簡(jiǎn)單的幾何曲線量角技術(shù)，與界面化學(xué)無(wú)法，測(cè)值結(jié)果與界面化學(xué)的的Young-Laplace方程擬合的重復(fù)性以及可比性沒有。

那么問題回來了。對(duì)于無(wú)法測(cè)試98%樣品的Young-Laplace方程擬合技術(shù)的接觸角測(cè)量?jī)x，他還算是一臺(tái)合格的接觸角測(cè)量?jī)x？答案是顯然的。而在采用切線法的接觸角測(cè)量?jī)x是已經(jīng)失去的“接觸角測(cè)量”的本來意義了。

所以，結(jié)論是，接觸角測(cè)量?jī)x應(yīng)該是一臺(tái)能夠采用Young-Laplace方程擬合技術(shù)，可分析非軸對(duì)稱條件下的界面化學(xué)分析儀器。那么，有這樣的儀器嗎？
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